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XRF仪器分析培训ppt课件

素材编号:
509524
素材软件:
PowerPoint
素材格式:
ZIP/RAR
素材上传:
weishenhe
上传时间:
2022-09-23
素材大小:
9 MB
素材类别:
科学PPT课件
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XRF仪器分析培训ppt课件

XRF仪器分析培训ppt课件下载是由PPT宝藏(www.pptbz.com)会员weishenhe上传推荐的科学PPT课件, 更新时间为2022-09-23,素材编号509524。

这是XRF仪器分析培训ppt课件下载,主要介绍了主要配置;主要用途;什么是仪器分析;什么是光谱分析;X射线荧光光谱仪的分类;波长色散X射线光谱仪分类;X射线荧光分析基本原理;X射线及X射线荧光;不同靶的连续谱图;工作曲线法;常用的制样方法,仪器分析是一大类分析方法的总称,一般的说,仪器分析是指采用比较复杂或特殊的仪器设备,通过测量物质的某些物理或物理化学性质的参数及其变化来获取物质的化学组成、成分含量及化学结构等信息的一类方法。或者说通过施加给测试样品一定的能量,然后分析其对声、光、电等物理或物理化学信号的响应程度或变化大小。分析仪器即测量这些信号及变化的装置。根据待测物质在分析过程中被测量或用到的性质,仪器分析可分为光分析方法、电分析方法、分离分析方法等。欢迎点击下载XRF仪器分析培训ppt课件。

  X射线荧光光谱仪

  日本岛津国际贸易有限公司型号:XRF-1800

  主要配置:LiF、Ge、PET、TAP、SX-52及SX-98N6块分光晶体;FPC、SC检测器;液体样品盒;微区刻度尺主要性能指标:1、检测元素范围:4Be-92U2、元素含量范围:0.0001%-100%3、最扫描速度:300°/min

  主要用途:1、测量块状、粉末、薄膜和液态材料的元素种类及含量,并建立工作曲线。2、对矿石样品进行局部分析。3、通过元素含量分析涂层、薄膜厚度。主要优点:分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单,光谱干扰少

  基础知识简介

  什么是仪器分析?

  仪器分析是一类分析方法的总称,一般的说,仪器分析是指采用比较复杂或特殊的仪器设备,通过测量物质的某些物理或物理化学性质的参数及其变化来获取物质的化学组成、成分含量及化学结构等信息的一类方法。或者说通过施加给测试样品一定的能量,然后分析其对声、光、电等物理或物理化学信号的响应程度或变化小。分析仪器即测量这些信号及变化的装置。根据待测物质在分析过程中被测量或用到的性质,仪器分析可分为光分析方法、电分析方法、分离分析方法等。

  仪器分析方法的分类

  classificationofinstrumentanalyticalmethod

  仪器分析

  电化学分析法

  光分析法

  色谱分析法

  热分析法

  分析仪器联用技术

  质谱分析法

  什么殊谱:光谱是一系列有规律排布的光。如雨后的彩虹。

  10-13

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  1

  101

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  104

  紫外线

  超短波

  短波

  中波

  长波

  超声波

  nm

  1Å

  μm

  m

  km

  green

  blue

  violet

  yellow

  orenge

  red

  380

  430

  490

  550

  590

  0

  780

  nm

  radiant

  波长λ(m)

  pm

  X射线

  γ射线

  可见光

  红外线

  微波

  (indigo)

  X射线也是一种电磁波

  光分析法:光学分析法是根据物质吸收、发射、散射电磁波或电磁波与物质作用而建立起来的一类分析方法。光学分析法可归纳为以下两类:

  第一类光谱分析法。例如原子吸收光谱分析、原子发射光谱分析,分子吸收光谱分析,X射线荧光分析和穆斯鲍尔光谱分析等。第二类封谱分析法。例如折射,偏振法,旋光色散法,浊度法,X射线衍射法,电子显微镜法等。

  什么殊谱分析?

  用特殊的仪器设备对特定物质的光谱进行分析的方法。常见的光谱分析仪器有:原子吸收光谱仪;直读光谱分析仪ICP直读光谱分析仪;X射线荧光光谱仪原子荧光光谱仪……

  X射线荧光分析

  X射线荧光光谱仪的分类1.根据分光方式的不同,X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类,缩写为EDXRF和WDXRF。2.根据激发方式的不同,X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种

  波长色散与能量色散分辨率的比较

  波长色散X射线光谱仪分类

  1.纯扫描型:一般配备4-6块晶体、两个计数器、衰减器等.灵活,造价较低.但是分析速度慢,稳定性稍差,真空室过,轻元素扫描道流气窗易损坏,故障率较高。2.纯多道同时型:每个元素一个通道,多数部件可以互换。稳定分析速度快、真空室很小.故障率低。但是造价高.

  3.多道加扫描道型:在多道同时型仪器上加扫描道,既有多道同时型的优点,又有灵活的优点.4.扫描型仪器加固定道:在扫描型仪器上加2-4个固定道.部分减少了扫描型仪器的慢速、稳定性差的缺点,但是基本构造没有改变,真空室很,配备固定道后检测距离加,灵敏度降低,故障率偏高。

  扫描型与同时型的比较

  X射线及X射线荧光

  X-射线:波长0.001~50nm;X射线荧光的有效波长:0.01~4.5nmX射线的能量与原子轨道能级差的数量级相同

  X-射线荧光分析利用元素内层电子跃迁产生的荧光光谱,应用于元素的定性、定量分析、固体表面薄层成分分析;

  X射线荧光分析基本原理X射线管发出一次X射线(高能),照射样品,激发其中的化学元素,发出二次X射线,也叫X射线荧光,其波长是相应元素的标识--特征波长(定性分析基础);依据谱线强度与元素含量的比例关系进行定量分析.

  荧光分析的样品有效厚度一般为≤0.1mm。(金属≤0.1mm;树脂≤3mm)▲有效厚度并非初级线束穿透的深度,而是由分析线能够射出的深度决定的!

  XRF-1800结构概念图示

  波长色散型WDX(顺序扫描型)

  顺序型单道扫描XRF系统配置

  多道同时型XRF仪器结构

  多道荧光工作原理图

  样品

  检测器

  X射线束

  分光晶体

  分光晶体

  检测器

  多道同时型荧光光谱仪概念图

  X射线及X射线荧光

  原子的壳层结构

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